西替利嗪EP杂质D 双盐酸盐(英文名 Cetirizine EP Impurity D DiHCl,CAS 856841-95-7)属于药物杂质对照品。分子式 C30H28Cl2N2 2*HCl。纯度 >95%。佳途科技作为 ISO 17034 认可的标准物质生产商,为该产品提供完整的质量文件与技术支持。
西替利嗪EP杂质D 双盐酸盐的产生途径与其化学式中含氮杂环结构,含氰基,含氯取代密切相关,该结构特征决定了其在合成/纯化或降解过程中出现的概率与行为。
西替利嗪EP杂质D 双盐酸盐(Cetirizine EP Impurity D DiHCl),CAS注册号 856841-95-7,化学式 C30H28Cl2N2 2HCl,是由药物合成或降解过程中产生的特定杂质,分子量为 523.93 g/mol。
西替利嗪EP杂质D 双盐酸盐(C30H28Cl2N2 2HCl)含有含氮杂环结构,含氰基,含氯取代。卤素取代增加了化合物的密度和沸点,较高的碳氢比使其脂溶性较好,这些物理化学性质直接决定了其标准溶液的最佳配制方案和储存策略。因分子内存在卤素取代基(F/Cl/Br/I),该化合物在质谱分析中呈现特征性的同位素分布模式,可作为定性确认的重要依据。
本品推荐用于有关物质检查的方法开发与验证,符合ICH Q3A/Q3B对药物杂质控制的指导原则。在系统适用性试验中,西替利嗪EP杂质D 双盐酸盐可作为HPLC分离度考察的标准品,确保色谱系统对主成分与相邻杂质的分离满足药典要求
发明人朱建伟,高志强,刘建华. "Method for the Synthesis of Cetirizine EP Impurity D DiHCl" [P]. 中国发明专利, 专利号 CN 116403950 B, 授权公告日 2022-04-17.
Thompson G K, Anderson J P, Lee S K. "A Process for Preparing High-Purity Cetirizine EP Impurity D DiHCl" [P]. US Patent, US 11058098 B2, 2019-06-23.
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